Растровый электронный микроскоп MAGELLAN 400 с субнанометровым разрешением - инструмент для анализа наноматериалов и наноструктур, подходящий для наблюдения за тонкими структурами, такими как многослойные покрытия и наночастицы, полученные с помощью нанотехнологий. Он также позволяет наблюдать образцы для просвечивающей электронной микроскопии и непроводящие образцы.
Основные преимущества:
- Разрешение менее 1 нм в диапазоне первичных напряжений 1 кВ - 30 кВ
- Трубка с технологией UC - минимизирует эффект хроматической аберрации
- Повышение чистоты поверхности образца за счет встроенных элементов плазменной очистки и криоконденсации
- Отображает как прошедшие (детектор STEM), так и отраженные электроны (детекторы SE, BSE)
- Адаптирован для обнаружения медленных электронов, разрешение 1,5 нм при энергии 200 эВ.
- Анализ элементного состава образца (EDX), его кристаллографической ориентации (EBSD) и изображения катодолюминесценции (CL)
- Подготовка образцов и наблюдение при температурах жидкого азота (крио-SEM)